大尺寸模组、整机缺陷AOI
设备名称：大尺寸模组、整机缺陷自动检查机
检测产品：17~75寸 LCM 模组、整机产品
设备节拍：15s/Pcs
设备方式：流水线在线式检测
关键指标：漏检：0.5%；过杀：5%
检测缺陷：
点不良，注：可检查1/3子像素辉点
线类不良
斑点、Mura不良，面积≥2mm*2mm且对比度≥6 %；
或面积≥0.3*0.3m且对比度≥15%的色斑缺陷
模组缺陷自动检查
设备名称：模组缺陷自动检查机
检测产品：7~17寸 LCM 模组产品
设备节拍：15s/2Pcs 每次检测两枚
设备方式：自动上下料
关键指标：漏检：0.5%；过杀：5%
检测缺陷：
点不良，注：可检查1/3子像素辉点
线类不良
斑点、Mura不良，面积≥2mm*2mm且对比度≥6 %； 或面积≥0.3*0.3m且对比度≥15%的色斑缺陷
小尺寸Cell 画质&外观
适用于偏光片贴附前Open Cell产品检测：点不良，线状不良，Mura，异物，斑点，机能不良；
卡匣上料，自动点灯，AOI画面检测，TRAY盘下料;8个pattern,每个pattern<0.6S；
2枚产品同时检测，检测最小分辨精度3μm；
检测缺陷：
键帽正面外观不良
颗粒、毛絮、脏污、边缘不良(锯齿)、白点、气泡、脱漆、划伤刮伤、碰伤压伤、凹坑、镭雕不良、开裂、印痕阴影
